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電位納米粒度分子量分析儀

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電位納米粒度分子量分析儀

  • 所屬分類:激光粒度分析儀

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  • 發布日期:2021/03/29
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詳細介紹
集Zeta 電位、 納米粒度、 分子量三項測試于一體的高端納米分析儀器


 

一、產品介紹

        Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩定性的高端儀器。

        Zeta電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩定。納米粒度分布采用動態光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進行布朗運動,較小顆粒的移動速度快于較大顆粒,在某個角度檢測記錄散射光強,散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度,利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。分子量測量采用靜態光散射(SLS)原理,散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量散射光強,繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

二、主要技術指標與性能

  • Zeta電位測試

    電位納米粒度分子量分析儀

  • 粒度分布測試

    粒度分布儀

  • 分子量測試 

    激光粒度儀

三、主要應用領域

        包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質、聚合物膠乳、藥物制備、水/ 油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應用等領域。

四、突出特點

  • BT-Zeta100電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩定。

  • 納米粒度分布測量采用動態光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進行布朗運動,較小顆粒的移動速度快于較大顆粒,在某個角度檢測記錄散射光強,散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度,利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。

  • 分子量測量采用靜態光散射(SLS)原理,散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量散射光強,繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

五、良好的重復性

  • 穩定的折疊光路系統

  • 高速數據采集與轉換模塊

  • 高精度樣品池定位組件

電位納米粒度分子量分析儀

電位納米粒度分子量分析儀

六、良好的準確性

  • 粒度測試準確性:用100nm 標準樣品測試,結果為101nm,誤差范圍為1%,遠遠小于國際標準ISO13321 允許誤差10% 的要求。

電位納米粒度分子量分析儀

  • Zeta 電位測試準確性:用-55mv 標準樣品測試,結果為-59.7994mv,誤差范圍為8.7%,小于國際標準ISO13099 允許誤差10% 的要求。

電位納米粒度分子量分析儀

  • 分子量測試

電位納米粒度分子量分析儀

 

 


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